15JE數顯測量顯微鏡

產品型號:15JE

產品細節及拍攝效果圖

115JE數顯測量顯微鏡特點和應用方向

數顯測量顯微鏡15JE可直接讀出測量結果，結構簡單，操作方便，使用范圍極廣，主要用途如下：①直角坐標中測定長度，例如測定孔徑、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、瞳孔外圓直徑等。②轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。③用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，簽定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等。總放大倍數：25X-100X
標簽：顯微鏡|測量顯微鏡|數顯測量顯微鏡|數顯測量顯微鏡15JE

215JE數顯測量顯微鏡產品參數

1	光學系統規格	目鏡	10X 帶十字尺焦距：25.00mm
		物鏡	2.5X/0.08 焦距：43.40mm		10X/0.25 焦距：17.13mm
		顯微鏡放大倍數	25X		100X
		工作距離	58.84mm		7.81mm
		視場直徑	5.60mm		1.40mm
2	測量工作臺讀數裝置主要規格	X軸移動測量范圍		50.00mm
		Y軸移動測量范圍		13.00mm
		測微器分度值		0.01mm
		測量臺轉動范圍		不限
		測量臺刻度盤分度范圍		0º ～ 360º
		測量臺刻度盤之分度值		1 º
		測量臺刻度盤游讀數示值		6′
3	測量精度	儀器示值誤差		±（5+L/15）微米 L—被測件長度(mm)
		儀器示值誤差		包括測量誤差與儀器系統誤差
		環境溫度變化		(20 ± 3) ºC
4	儀器主要尺寸及重量	測量臺與物鏡間最大距離		80mm
		測量工作臺直徑		120mm
		儀器外形尺寸		325 × 262 × 220 （mm）
		包裝尺寸		375×285×250（mm）
		儀器重量		10.5kg