掃描電子顯微鏡的應用

發布時間:2017-08-15 10:55:59 文章分類： 點擊數：

掃描電子顯微鏡的應用

 

在這里我們所說的掃描電子顯微鏡應用中的二次電子

、背散射電子、特征X射線等等與環掃狀態。

 

如果說樣品標本中幾個元素的原子序號相差比較大，

則可以作為元素成分成像背散射觀察成分像時，則就

需要樣品標本比較平整。

 

而對特征X射線來說則是元素分析、定性、半定量分析

、序數在五下的不可以做的，而在六到十間的誤差則

比較大。

 

這就是說特征X射線特點可以作樣品標本中的某點進行

分析，不傷害樣品標本，而特征X射線缺點則在有像序

數原子時誤差大。