顯微觀察時二軸晶體物質的干涉圖

發布時間:2020-04-14 09:47:37 文章分類： 點擊數：

顯微觀察時二軸晶體物質的干涉圖

 

對于晶體物質的檢測時所需要使用的偏光顯微鏡，則主

要是檢測出晶體物質中的二軸晶光的率體與一軸晶的對

比。

 

這時我們在使用顯微鏡進行光軸切片干涉時的二軸晶體

物質的干涉圖，則可以有幾種類型的形式進行的二軸晶

干涉圖。

 

我們可以分別分二軸晶體物質的干涉圖為垂直銳角等分

線切片二軸晶體物質的干涉圖與垂直鈍角等爭線切片二

軸晶體物質的干涉圖。

 

同時還有垂直一個光軸切片的二軸晶體物質的干涉圖與

斜交光軸切片二軸晶體物質的干涉圖與平行光軸面切片

的二軸晶體物質的干涉圖幾種。