透射電子顯微鏡的顯微觀察分析情況

發布時間:2020-02-20 10:34:24 文章分類： 點擊數：

透射電子顯微鏡的顯微觀察分析情況

 

透射電子顯微鏡我們又稱之為TEM,對于透射電子顯微鏡

來說，它主要是以分場發射和熱陰極電子發射兩種情況

下進行的檢測。

 

而我們所常用它來研究納米材料的結晶結構組織情況特

征，主要是通過觀察納米粒子的形貌以及分散情況的。

 

同時還用透射電子顯微鏡來觀察測量評估納米粒子的粒

徑，通常情況下我們所使用的這種顯微鏡就是利用這種

方法進行顯微分析的。

 

因此在使用這種透射電子顯微鏡時，則主要是使用我們

所知道的常用的納米復合材料對材料的微觀結構組織的

表面特征進行檢測 的技術之一。