紅外顯微系統反射模式下測量

發布時間:2018-07-26 09:13:52 文章分類： 點擊數：

紅外顯微系統反射模式下測量

 

通常如果需要進行測量表面的光譜，通常使用反射模式

，除非是鍍在金屬基片上的薄膜，一般情況下反射譜圖

要比透過光譜差。

 

這主要是因為一般非金屬材料僅僅反射不到百分之五的

光，其他的光則全部被基底材料吸收。

 

因此反射模式僅僅適用于光滑表面的樣品標本，而選擇

觀察模式，則就是將樣品標本放到樣品標本臺上，調整

樣品標本臺的高度。

 

使得樣品圖像清晰調整合適的光定義測量區域，使用提

供鏡測量背景，不要改變光從而控制板選擇紅外測量模

式，在軟件測量選擇背景測量。