物質的檢測方法是什么

發布時間:2018-06-28 10:52:20 文章分類： 點擊數：

物質的檢測方法是什么

 

均質晶體是檢測的晶體特光學各向同性，而對于任何

方向的光的檢測則是會發生折率性。

 

因此在正交偏光鏡下進行檢測的均質晶體是檢測的晶

體特光學各向同性，則不會形成干涉現象。

 

而對于一軸晶體物質上所出現的干涉現象，則是由于

晶體物質中的切片方向不同可以分為垂直光軸切片與

斜交光軸切片和平行光軸切片三種。

 

因此對于晶體物質的垂直光軸的切片來說，它的晶體

物質的光體率的光軸則是平行于顯微鏡的鏡筒中心軸。