測定晶體顆粒、相與類雜物時需要遵守的原則

發布時間:2017-11-24 11:00:01 文章分類： 點擊數：

測定晶體顆粒、相與類雜物時需要遵守的原則

 

如果我們在測定晶體顆粒、查或是類雜物時，則需要

遵守兩個原則來進行選擇負荷，壓頭或是壓入深度不

大于其厚度的十分之一。

 

壓痕的對角線長度則不應當大于其面積的五分之一，

測定其試件平均硬度時，在試件表面尺寸以及其厚度

允許的前提下，需盡量的選擇大負荷。

 

以避免試件材料結構組織硬度不均勻從而影響試件硬

度測定的正確性，為了保證測量的精確度，在情允許

的情況時則需要選擇大負荷。

 

一般應使得壓痕的對角線長度大于二十微米，考慮到

試件表面冷加工時產生的擠壓應力硬化層的影響，在

選擇負荷時應在情況許可的情況下選擇大負荷。